蔡司X射線(xiàn)顯微鏡 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米級分辨率的成像壁壘。

　　其高分辨率、高襯度以及靈活的工作距離下成像能力的組合，拓展了實(shí)驗室無(wú)損成像能力。

　　蔡司 Xradia 515 Versa 得益于兩級放大的架構，可實(shí)現大工作距離下亞微米級分辨率成像(RaaD)。

　　減少對單級幾何放大的依賴(lài)性，在大工作距離下依然保持了亞微米級分辨率。

　　優(yōu)勢

　　即使在距射線(xiàn)源較大的工作距離(從毫米到厘米)下，也能實(shí)現多功能性。

　　先進(jìn)的吸收襯度和創(chuàng )新的相位襯度，可實(shí)現對軟材料或低原子序數材料3D成像

　　突破基于投影的微米CT的技術(shù)限制，在靈活的工作距離上實(shí)現優(yōu)異的高分辨率

　　多種樣品尺寸下解析亞微米級特征

　　4D / 原位解決方案拓展了實(shí)驗室無(wú)損成像能力

　　隨時(shí)間推移，在一定環(huán)境條件下研究材料變化

　　在保證圖像質(zhì)量條件下的高通量

　　應用案例

　　蔡司 Xradia 515 Versa典型任務(wù)與應用

　　觀(guān)察軟復合材料中的裂縫或測量鋼材中的孔隙率

　　在不同條件下的原位成像研究，例如拉伸、壓縮、通氣體、氧化、潤濕和溫度變化等

　　對真空條件和帶電粒子束不適合觀(guān)察的材料進(jìn)行成像

　　觀(guān)察二維表面成像手段(如光學(xué)顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡等)難以觀(guān)察到的深埋內部的微觀(guān)結構

　　大工作距離的高分辨率，使您在使用各種原位裝置研究各種大小和形狀的樣品時(shí)實(shí)現原位成像

　　利用X射線(xiàn)無(wú)損的本質(zhì)進(jìn)行4D成像，觀(guān)察各種不同條件對材料的影響

　　聚合物電解質(zhì)燃料電池：樣品是非常軟的多孔聚合物與聚氨酯骨干。實(shí)現了低原子序數材料的原位高襯度成像，觀(guān)察樣品結構隨著(zhù)溫度和壓力的變化。利用3D數據做后續流體流動(dòng)模擬，可證明樣品的滲透性。

　　生命科學(xué)典型任務(wù)與應用

　　實(shí)現虛擬的組織學(xué)切片觀(guān)察，對細胞和亞細胞特征進(jìn)行可視化

　　通過(guò)觀(guān)察高分辨率、高襯度的細胞和亞細胞結構，拓展您在發(fā)育生物學(xué)方面的視野

　　對完整的大樣本進(jìn)行成像，例如大腦組織或大骨頭

　　對未染色和染色的組織實(shí)現高分辨率和高襯度成像

　　探究硬組織和軟組織以及生物的微觀(guān)結構

　　原材料典型任務(wù)與應用

　　表征巖心尺度上的非均質(zhì)性，并對孔隙結構進(jìn)行量化

　　流體流動(dòng)測試，紋理分析，對不同特征尺寸進(jìn)行分類(lèi)

　　碳固存研究

　　改進(jìn)礦物加工工藝流程：分析尾礦以盡量提高采收率，進(jìn)行熱力學(xué)浸出研究，對鐵礦石等采礦產(chǎn)品進(jìn)行 QA/QC 分析

　　精準的3D亞微米級成像，以幫助進(jìn)行數字巖心模擬、原位多相流體流動(dòng)研究和3D 礦物學(xué)分析

　　以高效率對大尺寸(4 英寸巖心直徑)樣品進(jìn)行多尺度成像、表征和建模

　　電子器件典型任務(wù)與應用

　　對完整封裝進(jìn)行無(wú)損亞微米成像來(lái)進(jìn)行缺陷定位和表征，從而優(yōu)化工藝開(kāi)發(fā)并進(jìn)行失效分析

　　用三維方式測量?jì)炔刻卣骰蜓芯糠庋b的可靠性

　　受益于高分辨率和無(wú)損的3D亞微米成像，可部分替代或者補充物理切片觀(guān)察的方法

　　通過(guò)完整設備的高通量的宏觀(guān)掃描，可在單一工具的工作流程中實(shí)現高效工作

　　無(wú)損的“定位-和-放大”系統，可實(shí)現快速從模組到封裝、到互連的缺陷進(jìn)行重新定位，并快速獲得亞微米級成像表征結果，以補充或替代物理切片觀(guān)察方法

　　蔡司高級重構工具箱

　　更好的圖像質(zhì)量，更快的速度

　　高級重構工具箱(Advanced Reconstruction Toolbox)是蔡司 Xradia 3D X射線(xiàn)顯微鏡的創(chuàng )新平臺，包含了高級重構技術(shù)模塊。獨特的重構模塊憑借對 X 射線(xiàn)物理學(xué)和客戶(hù)應用的深刻理解而實(shí)現，以創(chuàng )新方式解決一些極困難的成像挑戰。

　　您可以在這里找到有關(guān)蔡司X射線(xiàn)顯微鏡的*新技術(shù)的信息：

　　使用 “高級重構工具箱”，您可以：

　　改善數據采集和分析，以幫助您進(jìn)行精確、快速的后續決策

　　大幅提高圖像質(zhì)量

　　針對非常寬泛的樣品類(lèi)型，都能實(shí)現出色的內部斷層成像質(zhì)量或提高效率

　　通過(guò)提高圖像襯度、信噪比來(lái)呈現細微的圖像差異

　　對于需要重復類(lèi)似掃描參數的同類(lèi)型樣品，數據獲取速度可以提升一個(gè)數量級